[1]Michalik V.不同性质辐射诱发DNA损伤的模型[J].国际放射医学核医学杂志,1993,17(4):153-156.
Michalik V.[J].International Journal of Radiation Medicine and Nuclear Medicine,1993,17(4):153-156.
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《国际放射医学核医学杂志》[ISSN:1673-4114/CN:12-1381/R]
- 卷:
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17
- 期数:
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1993年第4期
- 页码:
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153-156
- 栏目:
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综述与译文
- 出版日期:
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1900-01-01
文章信息/Info
- 作者:
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Michalik V
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- Author(s):
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Michalik V
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- 摘要:
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描述了一种评估不同性质的辐射诱发不同DNA损伤的理论模型。模型没有严格区分直接与间接效应而是协同考虑的。计算出的初始双链断裂(DSB)产额与测量结果相一致。也研究了其它DNA多种与单一损伤。当辐射发生质的改变时,损伤的数量与质量都会发生改变。低LET辐射时,损伤中的多种损伤比例约为30%,随着电离密度的增加而大幅度上升。
更新日期/Last Update:
1900-01-01